池田屋泰赛TESEC 热阻测试机仪器 4602-LV 设计用于测量 GaN HEMT随 VGS 的温度变化 (ΔVGS) 的瞬态热阻特性。 测量值 VGS1 和 ΔVGS 值显示在前面板显示屏上。 特点 ・测量结果显示在前面板显示屏上 ・可以显示升高的温度 ΔT 作为计算结果 ・热阻Rth可显示为计算结果 ・多重测试功能 ・60 可存储测试程序 ・接触检查/开路，短路

原厂泰赛TESEC 热阻测试机设备 4324-KT 设计用于测量 GaN HEMT随 VGS 的温度变化 (ΔVGS) 的瞬态热阻特性。 测量值 VGS1 和 ΔVGS 值显示在前面板显示屏上。 特点 ・测量结果显示在前面板显示屏上 ・可以显示升高的温度 ΔT 作为计算结果 ・热阻Rth可显示为计算结果 ・多重测试功能 ・60 可存储测试程序 ・接触检查/开路，短路

全新泰赛TESEC 热阻测试机 4408-KT 设计用于测量 GaN HEMT随 VGS 的温度变化 (ΔVGS) 的瞬态热阻特性。 测量值 VGS1 和 ΔVGS 值显示在前面板显示屏上。 特点 ・测量结果显示在前面板显示屏上 ・可以显示升高的温度 ΔT 作为计算结果 ・热阻Rth可显示为计算结果 ・多重测试功能 ・60 可存储测试程序 ・接触检查/开路，短路