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原厂泰赛TESEC 热阻测试机设备 4324-KT
设计用于测量 GaN HEMT随 VGS 的温度变化 (ΔVGS) 的瞬态热阻特性。
测量值 VGS1 和 ΔVGS 值显示在前面板显示屏上。
特点
・测量结果显示在前面板显示屏上
・可以显示升高的温度 ΔT 作为计算结果
・热阻Rth可显示为计算结果
・多重测试功能
・60 可存储测试程序
・接触检查/开路,短路检查
・振荡检测
・可以通过 TESEC DC 测试仪控制操作
・门限电压可设定,并配备器件过热保护电路
・GP-IB/RS-232C 接口使外部设备能够控制该测试仪
・可以连接功能检查单元(4321-AB)(选项)
■ 可选软件示例
・从 PC 控制测试仪的软件
(测试程序创建、数据收集和计数器收集)
・使用功能检查单元收集测量数据的软件
项目 | 规格 |
漏极电流 (ID) | 00.01~20.00 A |
测量电流 (IM) | 000.1~999.9 mA |
栅极电压 (VGS) | 00.1~10.0 V |
栅极限制电压 (GATE-L) | 01.0~10.0 V |
通电时间 (PT)T | 100 微秒~30.0 秒 |
延迟时间 (DT) | 010~999 微秒 |
上限/下限 | 000.0~999.9 mV |
VDS | 01.0~70.0 V |
测量范围 | VGS1 0000.0~2000.0 mV ΔVGS 0000.0~999.9 mV(分辨率 0.1 mV) |
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