池田屋原装KOSAKA小坂粗糙度测量仪PU-C

KOSAKA小坂粗糙度测量仪PU-C产品介绍与技术参数

一、产品概述

KOSAKA小坂粗糙度测量仪PU-C是日本小坂研究所（KOSAKA）推出的旗舰级便携式表面粗糙度检测设备，专为精密制造、半导体、汽车零部件及科研领域设计。该仪器采用模块化触针传感器设计，支持快速更换探针，适应深孔、细孔及复杂曲面测量需求，其核心优势在于将测量精度与操作便捷性结合，成为微观形貌检测工具。

二、核心特点

1. ‌模块化传感器设计‌
   PU-C采用可插拔式触针传感器，用户可根据工件特征（如孔径、曲率）选择不同规格探针，无需返厂校准。例如，针对6mm细孔测量，可搭配极细检出器实现61mm深度检测，而传统设备需定制专用夹具。

2. ‌高精度直动式测量系统‌
   传感器采用直动式差动变压器原理，消除传统杠杆结构带来的机械误差。在Ra=3μm标准工况下，重复性误差≤±3%，可识别0.025nm级表面起伏，满足半导体晶圆、光学镜片等超精密表面的检测需求。

3. ‌智能环境适应性‌
   内置温度补偿与振动抑制算法，在车间振动或温湿度波动环境下仍能保持数据稳定性。配备彩色CCD定位系统，支持320倍放大实时观察测量区域，避免误触。

4. ‌全场景兼容性‌
   支持ISO、JIS、DIN等12种国际标准，可同时输出Ra、Rz、Rq等32个参数。其轻量化设计（整机重量≤1.2kg）配合磁吸底座，可快速部署于机床、流水线或实验室。

三、技术参数详解

四、应用场景

1. ‌半导体制造‌
   检测晶圆切割后的边缘毛刺，识别0.1μm级崩糙度测量仪边缺陷，提升芯片良率。

2. ‌汽车发动机‌
   测量缸体珩磨后的交叉网纹粗糙度，优化燃油密封性，降低机油消耗。

3. ‌医疗器械‌
   评估人工关节表面的Ra值，确保植入物与骨骼的生物相容性。

4. ‌科研领域‌
   在材料表面改性研究中，量化激光抛光后的纳米级波纹度变化。

五、操作流程

1. ‌探针选择‌：根据工件材质（金属/陶瓷/高分子）匹配测定力，避免划伤表面。

2. ‌定位校准‌：使用CCD系统定位测量区域，启动自动调平功能。

3. ‌数据采集‌：一键启动测量，系统自动过滤环境噪声，生成轮廓曲线。

4. ‌报告生成‌：通过配套软件导出PDF报告，包含ISO标准参数与3D形貌图。

六、竞争优势

相较于竞品，PU-C在三个维度实现突破：

• ‌精度‌：直动式传感器较杠杆式精度提升40%

• ‌效率‌：模块化设计使探针更换时间从15分钟缩短至30秒

• ‌成本‌：通过智能校准延长传感器寿命，降低年均维护费用30%