NITTOSEIKO日东精工低阻电阻率计MCP-T710

一、产品概述

MCP-T710是日东精工（NITTOSEIKO）推出的Loresta-GXⅡ系列低阻电阻率计，专为高精度测量导电材料的电阻特性而设计。该设备采用四探针法（4-pin）测量原理，通过恒流施加技术消除接触电阻和导线电阻的影响，确保测试结果的准确性和重复性。其核心优势在于扩展的低电阻测量范围（10⁻⁴Ω至10⁷Ω）和硅晶体专项测试模式，可广泛应用于研发、生产及质量控制领域。

二、核心功能与技术创新

1. ‌精准测量技术‌

• 采用四探针法，通过独立电流注入和电压检测引脚，有效规避接触电阻干扰，提升低电阻区域（如金属薄膜、导电涂料）的测量精度。

• 硅晶体测试模式支持电流方向切换，可分析半导体材料的层间电阻特性。

2. ‌智能操作设计‌

• 7.5英寸全彩触摸屏实现参数设置、数据存储的一键式操作，支持定时测量和自动保持功能，测试结束后自动锁定结果。

• 上下限值报警功能可快速判定样品合格性，适配生产线快速检测需求。

3. ‌模块化探头系统‌

• 支持ASR、LSR、ESR等专用探头，针距恒定且压力可控，确保不同材质（如ITO玻璃、导电橡胶）的稳定接触。

• 镀金弹簧探针设计延长使用寿命，降低维护成本。

三、技术参数详解

四、应用场景与价值

1. ‌研发领域‌
   用于新材料（如导电塑料、电磁屏蔽膜）的电阻特性评估，通过高精度数据加速配方优化。

2. ‌生产质控‌
   在硅晶圆、金属镀层等加工环节，实时监测电阻波动，避免批次性缺陷。

3. ‌行业适配性‌
   兼容从实验室到车间的多种环境，便携设计支持现场检测（如建筑涂料导电性测试）。

五、产品优势总结

• ‌精度提升‌：较前代Loresta GP扩展10倍低电阻量程，满足纳米级薄膜检测需求。

• ‌效率优化‌：自动测量功能减少人工干预，单次测试时间缩短至秒级。

• ‌成本控制‌：模块化探头降低耗材支出，长期使用性价比突出。

六、使用注意事项

• 探头需定期校准，避免尖锐物接触针尖。

• 高湿度环境可能影响测量稳定性，建议在温控条件下操作。

该设备通过技术创新实现了材料电阻特性的全面解析，为工业4.0时代的精密制造提供了可靠工具。