池田屋原装拓普康 工业紫外线强度计 UVR-T2产品介绍技术参数

一、产品概述：工业紫外能量管理的精准之选

TOPCON拓普康UVR-T2工业紫外线强度计，是一款专为工业环境打造的高精度紫外辐射测量系统，它突破了传统照度计的单一功能局限，集多维度测量、数据管理与工业级耐用性于一体，成为各类紫外照射装置维护、工艺优化的核心工具。

该设备采用主机与受光部分离的模块化设计，用户可根据不同紫外光源的波长特性，灵活选配四款专业探头，覆盖从230nm到490nm的关键工业紫外波段，实现从深紫外杀菌到近紫外固化的全场景适配。其不仅能精准测量瞬时光强，更能提供峰值辐照度、累计光量等工艺核心数据，为生产过程的数字化管控提供可靠依据。

二、核心技术参数：专业性能的硬核支撑

UVR-T2的高精度测量能力，源于其专业的技术参数配置：

1. 多探头适配，覆盖全波段需求|探头型号|测量波长范围|峰值灵敏度波长|照度测定范围（mW/cm²）|适用场景| | ---- | ---- | ---- | ---- | ---- | |UD-T25T2|230–280nm|约254nm|范围1:0.01-30.0；范围2:0.1-300.0；范围3:1.0-3000.0|深紫外杀菌、半导体光刻| |UD-T36T2|300–390nm|约350nm|范围1:0.02-60.0；范围2:0.2-600.0；范围3:2.0-6000.0|PCB油墨固化、医疗设备消毒| |UD-T40T2|350–490nm|约410nm|范围1:0.01-30.0；范围2:0.1-300.0；范围3:1.0-3000.0|油墨干燥、涂层固化| |UD-T3040T2|290–430nm|-|范围1:0.02-60.0；范围2:0.2-600.0；范围3:2.0-6000.0|UV-LED光源检测、表面处理|

2. 全维度测量，满足工艺核心需求

• 实时辐照度：以mW/cm²为单位，精准监测紫外线强度瞬时值，评估光源输出稳定性；

• 峰值辐照度：记录测量过程中的值，为脉冲光源、扫描设备的峰值能量判断提供依据；

• 累计光量：以mJ/cm²为单位，计算一段时间内总曝光能量，是固化、杀菌等工艺的核心控制参数。

3. 工业级配置，适配严苛环境设备采用耐热金属机身并配备隔热罩，可在60℃环境下稳定工作；支持7号干电池、USB双供电模式，满足固定与移动测量需求；标准配备内置存储器、USB和模拟信号输出，可选配2米延长单元实现远程测量，配套PC软件可实现数据自动采集、分析与报告生成。

三、广泛应用场景：守护多行业生产质量生命线

UVR-T2凭借其专业性能，已成为多个行业紫外工艺管控的关键工具：

1. 电子制造行业：用于电气电子零部件密封、粘着工序，PC基板印刷干燥及封装生产线的紫外光源管理，通过测量数据控制传输速度、光源强度分布及更换时间，提升产品成品率。

2. 半导体与FPD产业：适配半导体光刻、FPD曝光装置的深紫外光源，精准测量峰值辐照度与累计光量，保障光刻工艺的精度与稳定性。

3. 医疗与消毒领域：用于紫外线消毒装置、杀菌设备的性能检测，确保紫外剂量达到灭菌标准，守护医疗安全。

4. 表面处理与固化行业：在紫外线硬化装置、表面处理设备中，通过累计光量管控，确保涂层、胶水等获得精准固化能量，提升产品质量一致性。

5. 研发与质检环节：为各类UV灯具研发部门、制造工位提供专业检测数据，用于光源性能评价、工艺优化与质量把控。