摘要： 在OLED/QLED显示材料、LED荧光粉、量子点及钙钛矿发光材料等前沿领域，绝对量子效率（光致发光量子产率，PLQY）是衡量材料发光性能的核心指标。池田屋全新引入的日本大塚电子（Otsuka Electronics）QE-2100型绝对量子效率测量系统，基于积分半球单元与低杂散光多通道光谱探测技术，可对粉末、溶液、薄膜及固体样品进行快速、高精度的绝对量子效率测量，并支持温度依赖性量子效率评价与紫外至近红外宽波段覆盖，为发光材料研发与质量控制提供了高效精准的表征工具。
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在OLED/QLED显示材料开发、LED荧光粉优化、量子点合成工艺研究以及钙钛矿发光材料评价中，绝对量子效率（Photoluminescence Quantum Yield, PLQY）是衡量材料光致发光性能的核心指标，直接关系到器件的亮度、效率与功耗。传统量子效率测量方法依赖相对法或复杂的积分球系统，操作繁琐且测量精度受样品形态与散射特性影响。为满足发光材料研发对高效精准量子效率表征的需求，池田屋引入日本大塚电子QE-2100型绝对量子效率测量系统。
大塚电子成立于1973年，隶属于大塚集团，在光学测量领域拥有超过五十年的技术积累。QE-2100是大塚电子针对发光材料绝对量子效率测量开发的专用系统，采用积分半球单元光学设计，结合低杂散光多通道光谱探测器，有效降低了紫外区域的杂散光影响，显著提升了量子效率测量的精度与可靠性。
在核心性能方面，QE-2100可测量粉末、溶液、固体（薄膜）及薄膜样品等多种形态的发光材料。其积分半球单元相比传统积分球具有更高的光收集效率，尤其适用于弱发光或散射严重的粉末样品。系统通过再激发荧光校正功能进一步消除二次吸收效应对测量结果的影响，确保量子效率数据的准确性。
在测量能力方面，QE-2100支持激发光谱测量与绝对量子效率同步测定。用户仅需设置好样品测量池，通过专用软件即可轻松完成测量。系统可选配变温样品架，实现量子效率的温度依赖性评价（50-300℃），这对于研究材料的热稳定性与器件工作温度下的性能表现至关重要。光谱探测范围可通过更换检测器扩展，支持从紫外（约300nm）至近红外（约1600nm） 的宽波段测量。
在硬件设计方面，QE-2100采用紧凑型一体式设计，操作简便。专用软件界面直观，用户可通过简单的几步操作完成测量参数设置、数据采集与结果输出。系统广泛应用于发光材料的研发、质量控制与生产工艺优化。
在应用场景方面，QE-2100广泛适用于OLED/QLED显示材料的发光效率评价、LED用荧光粉的量子效率优化、量子点与钙钛矿发光材料的研发表征，以及生物荧光标记与光动力治疗材料的性能评估。
行业观察人士指出，在发光材料研发与质量控制领域，绝对量子效率的精确测量是推动材料性能提升与器件优化的基础。池田屋此次引入的大塚电子QE-2100绝对量子效率测量系统，以其积分半球高效光收集、低杂散光高精度探测、多形态样品兼容及温变测量能力等核心优势，为国内发光材料科研与产业界提供了高效精准的量子效率表征平台。
综合来看，该产品的推广应用，有助于提升发光材料在量子效率表征环节的精度与效率，为OLED、LED及新型发光材料的研发与产业化提供坚实的技术支撑。
