小坂KOSAKA粗糙度仪SE800 电动立柱适配多标准表面测定

摘要： 池田屋实业近日上新小坂KOSAKA粗糙度仪SE800。该产品为二次元粗度测定机型，支持JIS、DIN、ISO、ASME等国际规格，Z轴最小分辨率0.04nm，配备电动立柱与自动停止机能，搭配电脑软件可解析粗糙度、波纹度及台阶段差等参数，面向精密表面形貌检测提供测量方案。

内容：

在精密加工与材料研究领域，表面形貌的评定往往需要兼顾多种国际标准、不同测量长度以及多样的演算方式，仪器能否在同一平台上完成粗糙度、波纹度与段差的综合解析，关系到检测工作的完整性与数据可比性。池田屋实业近日上新小坂KOSAKA粗糙度仪SE800，该产品为二次元粗度测定机型，围绕多标准适配与自动化操作进行了配置。

标准与软件能力是SE800的一项特点。该产品对应ISO、JIS、DIN、ASME、BS等各国际规格及各国新旧规格，具备各种Filter Cut-off值、多种可选测定长度及演算方式，便于用户依据不同标准开展评定。搭配电脑及专用软件，可解析粗糙度、波纹度、台阶段差等多种机能，并可导出点云资料，为后续数据处理提供更灵活的使用方式。

结构与操作方面，SE800搭配电动立柱并具有自动停止机能，便于操作并有助于避免探头损坏。除电动控制外，该产品另配备立柱及X轴手动微调移动旋钮，便于使用者手动调整下针位置。设备具备自动校准机能，并可任意组合各式测定自动化要素，实现连贯测定动作。此外，产品还提供多种立柱高度及床台尺寸选择，便于适配不同尺寸的工件。

从规格看，SE800测量范围为Z轴600μm、X轴100mm，Z轴最小分辨率为0.04nm，直线度精度0.2μm/100mm，检出器为PU-DJ2S-60，触针规格R2μm 60°。同系列另提供SE800-C5W机型，采用PU-OS501W检出器与镭射波长635nm，测量范围Z轴500μm、X轴100mm，Z轴最小分辨率0.2nm。设备尺寸为W1500×D800mm。池田屋方面表示，该产品的引入补充了其在粗糙度测量类产品上的供应选择，围绕选型与自动化配置可提供相应的产品信息与技术支持。