KOSAKA 小坂 SEF580A 系列粗糙度轮廓一体机技术解析

SEF580A 系列是 KOSAKA（小坂研究所）面向常规工业检测的粗糙度与轮廓形状一体机。与 SEF800 系列相比，它没有追求的亚纳米分辨率，而是把重点放在长距离高精度解析、多规格同时解析与数据便捷导出上，适合工件尺寸较大、需要在一台设备上兼顾微观纹理与宏观轮廓的场合。

三个型号的分档逻辑

SEF580A 系列按测量范围与精度分为三个型号，选型差异集中在量程与分辨率：

SEF580A-M50：粗糙度 Z 轴 800μm、X 轴 50mm，分辨率 0.08nm；轮廓 Z 轴 30mm、X 轴 50mm，分辨率 Z 轴 0.025μm，直线度 3.5μm/50mm 以下。无电动立柱。
SEF580A-M58/D：粗糙度 Z 轴 600μm、X 轴 100mm，分辨率 0.04nm；轮廓 Z 轴 50mm、X 轴 100mm，分辨率 Z 轴 0.025μm、X 轴 0.1μm，直线度 1.0μm/100mm 以下。配备电动上下 250mm。
SEF580A-G18/D：量程与 M58/D 相同（Z 轴 600μm / 50mm、X 轴 100mm），但轮廓 Z 轴分辨率为 0.1μm，低于 M58/D 的 0.025μm。同样配电动上下 250mm。

选型主线：若工件较小、量程 50mm 够用且无需电动立柱，选 M50；若需 100mm 行程与电动立柱，在 M58/D 与 G18/D 之间取舍——两者量程相同，M58/D 的轮廓分辨率（0.025μm）优于 G18/D（0.1μm），对轮廓细节要求高选 M58/D，要求一般则 G18/D 更经济。

核心能力：长距离高精度解析

轮廓形状系统支持 X 轴最大取样数 64,000 点。这一取样密度的意义在于：长距离扫描时仍能保持足够的横向分辨率，避免因取样点不足导致轮廓细节丢失。对于长轴类、大平面类工件的宏观形状评价，这是实质性能力。

操作与数据

采用触控面板与按键并用的操作方式，兼顾触屏的直观与实体按键的盲操作效率。对应多样化参数，可同时解析多种规格，减少在标准体系间切换的操作成本。

数据可通过 USB Memory 导出，便于将测量结果转移至 PC 做归档或进一步分析。

与 SEF800 系列的区分

SEF580A 系列（本系列）：X 轴行程 50～100mm，轮廓 Z 轴分辨率 0.025～0.1μm，直线度 1.0～3.5μm，定位为常规工业检测的一体机。

SEF800 系列：粗糙度分辨率 0.04nm，轮廓 Z 轴量程可达 60mm、分辨率 0.025μm，直线度 0.2μm/100mm（粗糙度模式），定位更高。

选型分界在于精度与行程需求：若需更高直线度与更大轮廓量程，选 SEF800；若以常规工件、50～100mm 行程为主，SEF580A 的配置更贴合且成本更优。

选型判断

SEF580A 的适用边界是：需要在一台设备上同时评价表面粗糙度与宏观轮廓形状、工件行程在 50～100mm 以内、且要求数据可经 USB 导出的常规工业检测场景。

若需电动立柱实现自动升降，M50 不满足，应在 M58/D 或 G18/D 中选择；若对轮廓细节分辨率要求达 0.025μm，选 M58/D；若 0.1μm 已足够，G18/D 可降低成本。若需更高精度或更大行程，应向 SEF800 系列选型。

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