KOSAKA 小坂 SEF800-N 粗糙度轮廓测定一体机技术解析

KOSAKA（小坂研究所）SEF800 系列是将表面粗糙度测定与轮廓形状测定整合到一台设备的一体机。它的核心价值在于：评价粗糙度、波纹度与宏观形状轮廓时，无需在两台仪器间搬运工件或重新装夹。SEF800-N 是该系列中轮廓形状分辨率更高的型号，与 SEF800-G 形成档位差异。

粗糙度与轮廓双模式的分工

SEF800 系列的测量能力分两组参数，同一台设备切换使用：

粗糙度模式：Z 轴测量范围 600μm、X 轴 100mm，直线度 0.2μm/100mm，Z 轴最小分辨率 0.04nm。这一组指标与专业粗糙度仪同级，适合评价微观表面纹理。

轮廓形状模式：SEF800-N 的 Z 轴范围 60mm、X 轴 100mm，直线度 1.0μm/100mm，Z 轴最小分辨率 0.025μm。这一组面向宏观形状，如圆弧、锥面、深槽的轮廓偏差。

两组模式的 Z 轴量程差异显著（600μm 对 60mm），说明设备通过更换检出器或切换测量单元，在微观粗糙度与宏观轮廓两种量级间转换。选型时需确认项目主要评价哪一类，或是否两者都需要。

SEF800-N 与 SEF800-G 的差异

两个型号的粗糙度参数一致（Z:600μm、X:100mm、直线度 0.2μm/100mm、分辨率 0.04nm）。差异仅在轮廓形状模式：

SEF800-G：轮廓 Z 轴范围 50mm，Z 轴最小分辨率 0.1μm。
SEF800-N：轮廓 Z 轴范围 60mm，Z 轴最小分辨率 0.025μm。

SEF800-N 的轮廓分辨率是 G 型的 4 倍，Z 轴量程也更大（60mm 对 50mm）。若项目对宏观轮廓的细节分辨要求高，或工件形状起伏更大，选 N 型；若轮廓评价精度要求一般、50mm 量程够用，G 型可满足。

测量方向与操作能力

触针可向上或向下测定，轮廓测定方向可左、右双向测定。双向与双向触针的设计使设备能评价凹槽底面、内孔上壁等常规单向设备难以到达的位置，减少了翻面或重新装夹的需求。

设备具备纵轴与横轴的自动校准机能，支持多断面形状解析，并可自动执行从测定到打印的流程。「单键式操作」的巨集机能可将固定测量流程固化为一键调用，适合重复性测量任务。

标准兼容

对应各国规格工业规范，包括 ISO、JIS、DIN、ASME、BS 等体系。跨标准切换能力对出口产品或跨标准验收场景是必要的。

选型判断

SEF800-N 的适用边界是：需要在一台设备上同时评价表面粗糙度与宏观轮廓形状，且对轮廓细节分辨率要求达 0.025μm 级、轮廓 Z 轴量程需覆盖 60mm 的场合。

若仅需粗糙度评价，SE800 系列或便携机型更经济；若仅需轮廓测量，可评估专门的轮廓仪；若同时需要台阶/薄膜厚度分析，应对应 ET4000 系列。SEF800-N 与 G 型的选择取决于轮廓精度要求：0.025μm 分辨率与 60mm 量程是 N 型的核心增量，若项目达不到这一精度需求，G 型的 0.1μm 分辨率已足够。

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